planimetria, architettura: progetto per barriera daziaria, Porta Tenaglia a Milano (disegno, opera isolata)
Tipo:
disegno; image
Categoria:
Disegni
Autore:
D'Aronco Raimondo, D'Aronco Raimondo
Planimetria di edificio a china con proiezione delle coperture a linea tratteggiata e sezioni murarie a tratteggio a 45°. A sinistra: serie di ambienti a pianta rettangolare con logge di distribuzione laterali. A destra: spazio porticato costituito da vano quadrato inferiore. (i pilastri, con angolo interno smussato e colonnina incassata, presentano colonne addossate su due lati contigui) e vano rettangolare superiore (apertura superiore semplice su coppia di colonnine binate; apertura doppia su colonne.
Lingua:
it
Soggetto:
architettura: progetto per barriera daziaria, Porta Tenaglia a Milano, planimetria
Formato:
mm., altezza: 850; larghezza: 533
Materia e tecnica:
carta a mano/ inchiostro di china/ matita
Data:
ultimo quarto sec. XIX; 1883 - 1883
Copertura:
Lombardia (MI) - Milano
Ambito geografico:
Accademia di Belle Arti di Brera - Raccolte storiche dell'Accademia di Brera, Via Brera, 28 - Milano (MI), Lombardia - Italia
Fonte:

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Riferimenti
È gestito da : MIC - Istituto centrale per il catalogo e la documentazione
Fonte dati
Identificatore: 03 00202120
Citazione bibliografica: bibliografia specifica: Ricci G./ Sandri M.G., 1982
Diritti
Diritti: proprietà Stato
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